專利挖掘中如何解決技術(shù)問題

專利挖掘的源泉是發(fā)現(xiàn)問題，形成解決問題的構(gòu)思，我們把這種解決了一定的問題的構(gòu)思、主意、創(chuàng)意，成為“發(fā)明構(gòu)思”。也就是說，形成發(fā)明構(gòu)思是企業(yè)在進(jìn)行專利挖掘過程中的重要環(huán)節(jié)。

在專利挖掘中，常見的解決技術(shù)問題的方法有以下幾種：基于所需知識；頭腦風(fēng)暴法；基于技術(shù)研發(fā)；TRIZ理論等。

專利挖掘中如何解決技術(shù)問題

1.基于所需知識

發(fā)明者可以基于所需知識來解決問題，其中所需知識一般分為兩類：發(fā)明者自身的技術(shù)知識儲備以及可以獲取的其他知識，這些知識可以來源于各種書籍、科技論文、技術(shù)報告等。因而這種解決技術(shù)問題的方式相當(dāng)于在有限的時間里從浩瀚的知識海洋中尋找有用的知識，其難度也好似大海撈針一般。

面對越來越快的知識更新速度，人腦已經(jīng)無法有效地?fù)?dān)當(dāng)海量知識的記憶載體和處理中樞，因此，這種傳統(tǒng)的解決技術(shù)問題方法越來越難以滿足現(xiàn)代企業(yè)的專利挖掘過程的需求。即便通過該方法解決了某一技術(shù)問題，因發(fā)明者所掌握的知識也容易為公眾所熟知，進(jìn)而最終形成的技術(shù)構(gòu)思或者技術(shù)方案中也往往缺乏核心的“創(chuàng)新點(diǎn)”，而往往只能得到一些公知常識的結(jié)論，最終導(dǎo)致挖掘到的技術(shù)方案創(chuàng)新高度不夠。

2.頭腦風(fēng)暴法

頭腦風(fēng)暴法（Brain-storming）也是一種傳統(tǒng)的解決問題方法，其有四項原則：自由思考、延遲評判、以量求質(zhì)、結(jié)合改善。自由思考即要求參與者盡可能解放思想、無拘無束地思考問題冰暢所欲言，不必顧慮自己的想法或說法是否“離經(jīng)叛道”或“荒唐可笑”；延遲評判即要求參與者不要對他人的設(shè)想評頭論足，對于設(shè)想的評判，留在會后組織專人考慮；以量求質(zhì)即鼓勵參與者盡可能多而廣地提出設(shè)想，以大量的設(shè)想來保證質(zhì)量較高的設(shè)想的存在；結(jié)合改善即鼓勵參與者積極進(jìn)行智力互補(bǔ)，再增加自己提出設(shè)想的同時，注意思考如何把兩個或更多的設(shè)想結(jié)合成另一個更完善的設(shè)想。

同樣是基于參與者自身的知識經(jīng)驗，但由于采用了上述原則，頭腦風(fēng)暴法較好的保證了群體決策的創(chuàng)造性，提高了決策質(zhì)量、在專利挖掘過程中也大大提高了發(fā)明構(gòu)思的形成效率。

3.基于技術(shù)開發(fā)

基于技術(shù)研發(fā)來解決問題，往往適于企業(yè)基于某研發(fā)項目或者圍繞技術(shù)改進(jìn)的專利挖掘，對于大多數(shù)企業(yè)來說，尤其是創(chuàng)新型企業(yè)，技術(shù)研發(fā)是日常工作的核心，也是企業(yè)智慧的集中體現(xiàn)。企業(yè)進(jìn)行技術(shù)研發(fā)的過程往往就是在解決某一技術(shù)領(lǐng)域有待解決的問題，在這個過程中會產(chǎn)出大量代表企業(yè)智慧的發(fā)明構(gòu)思以及創(chuàng)新點(diǎn)。以技術(shù)研發(fā)為基礎(chǔ)的專利挖掘是企業(yè)面對的最主要的場景，也是最為有效的解決問題手段。

但是，對于技術(shù)研發(fā)落后，資金投入不足的企業(yè)來說，往往很難從這一角度著手獲得技術(shù)問題的解決方案來進(jìn)行專利挖掘。

4.TRIZ理論

TRIZ是“發(fā)明問題解決理論”俄文首字母的縮寫，由前蘇聯(lián)學(xué)者阿奇舒勒（Genrich. Saulovich.Altshuller，1926-1998)和他的研究團(tuán)隊通過分析大量專利和創(chuàng)新案例總結(jié)出來的。阿奇舒勒指出，產(chǎn)品及其技術(shù)的發(fā)展總是遵循著一定的客觀規(guī)律。相同的技術(shù)問題以及為了解決這些問題所使用的創(chuàng)新原理與方法，在不同的時期、不同的領(lǐng)域里反復(fù)出現(xiàn)，也就是說，解決問題的方法是有規(guī)律、有方法學(xué)的。把這些關(guān)于方法的知識進(jìn)行提煉和重組，形成一套系統(tǒng)化的理論，就可以用來指導(dǎo)后來的發(fā)明創(chuàng)造，并且能預(yù)測產(chǎn)品的未來發(fā)展趨勢。（本期內(nèi)容來自《專利挖掘》第二章。）

來源：專利分析師

作者：郭大為

編輯：IPRdaily.cn 趙珍

校對：IPRdaily.cn 縱橫君

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專利挖掘中如何解決技術(shù)問題

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